Universität Wien

270159 VO Charakterisierung von Materialien (2018W)

5.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 27 - Chemie

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Details

max. 50 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch

Prüfungstermine

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

(Kautek) Fundamentals of Optical and Electron Microscopy, Bright and Dark Field Techniques, Phase and Interference Contrast, Fluorescence Microscopy, Fluorescence Resonance Energy Transfer (FRET), Confocal Microscopy, Nonlinear Optics - Multiphoton Fluorescence Microscopy, Second Harmonic Generation at Interfaces, Laser-Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS), Scanning Tunneling Microscopy (STM), Scanning Force Microscopy (SFM), Optical Nearfield (Fundamentals), Aperture Scanning Nonlinear Optical Microscopy (SNOM), Scattering SNOM, Apertureless SNOM, fs-SNOM, Total Internal Reflection Fluorescence (TIRF), Voltammetry of Microparticles (VMP), Electrochemical Quartz Microbalance (EQMB), In-situ Grazing Incidence X-Ray Diffractometry (GIXD), Electrochemical Nanotribology, Electrochemical Laser Activation/Depassivation, Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
(Rupprechter) Infrared-Reflection-Absorption-Spectroscopy (IRAS), Raman Spectroscopy (SERS), X-ray and UV Photoelectron Spectroscopy, Auger Spectroscopy, Microspectroscopy and Spectromicroscopy, X-ray Absorption Spectroscopy (EXAFS), X-Ray Diffraction (XRD), Low-Energy-Electron-Diffraction (LEED), Transmission-Electron-Diffraction (TED), Transmission- and Scanning Electron Microscopy, Analytical Electron Microscopy (SAED, EDX, EELS)

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Oral examination

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Fundamental understanding and interdisciplinary knowledge of the characterization of materials.

Prüfungsstoff

Literatur

Mitschrift, Skript

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Pflichtmodul Grund- und Angleichung

Letzte Änderung: Sa 08.07.2023 00:21