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280018 VU BA_ERD_14 Gesteinsmikroskopie (PI) (2018W)

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Details

max. 70 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

Montag 05.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 06.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 12.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 13.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 19.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 20.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 26.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 27.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 03.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 04.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 10.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 11.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 07.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 08.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 14.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 15.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 21.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 22.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Montag 28.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Dienstag 29.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Die Studierenden wissen über die Phänomene der Interaktion des Lichtes mit ausreichend dünnen und transparenten Materialien und wie diese mit Hilfe des Polarisationsmikroskops zur Identifizierung von Mineralen eingesetzt werden können. Sie sind darüber hinaus in der Lage, den Mineralbestand und die Mikrostruktur eines Gesteins im Dünnschliff zu erkennen und Aussagen über dessen Namen und Bildungsbedingungen zu machen. Diese Kompetenzen wurden durch Übungen am Mikroskop erworben.

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Die LV enthält pi und npi Anteile und wird insgesamt in Form einer Modulprüfung nach den pi-Regeln absolviert.

Dafür sind drei, nach einem Punktesystem zu bewertende Teilleistungen an folgenden Terminen zu erbringen:
TL1: 20.11.2018 Kristalloptik, 34 Punkte
TL2: 11.12.2018 Magmatische Gesteine, 33 Punkte
TL3: 22.01.2019 Metamorphe Gesteine, 33 Punkte

Den Studierenden obliegt die Prüfung der Kollisionsfreiheit dieser Termine mit anderen Studienaktivitäten unmittelbar nach ihrer Bekanntmachung.

Zusatztermin:
TLW: 25.02.2019, 14:00 Uhr; An diesem Termin besteht die Möglichkeit eine durch Krankheit oder andere nachweislich widrige Umstände versäumte Teilleistung nachzuholen. Zudem wird an diesem Termin eine Verbesserungsmöglichkeit für die mit der geringsten Punktezahl bewertete Teilleistung angeboten. Dabei ist zu beachten, dass die am Nachholungstermin erbrachte Teilleistung die eventuell schon erbrachte Teilleistung ersetzt, unabhängig davon ob dadurch eine Verbesserung oder eine Verschlechterung des Ergebnisses entsteht.
Die Teilnahme an der TLW setzt eine schriftliche Anmeldung (per e-mail an den LV Leiter) bis spätestens 18.2.2019 unter Angabe der zu absolvierenden TL voraus.

Bei den Teilleistungen sind außer den optischen Tabellen (Tröger) keinerlei Hilfsmittel erlaubt.

Benotungsschema:
In den drei TL werden kumulativ Punkte von maximal 100 möglichen Punkten erworben.

Erzielte Punkte Note
87 - 100 1
75 – 86,99 2
63 – 74,99 3
50 – 62,99 4
<50 5

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Die Lehrveranstaltung ist positiv absolviert, wenn kumulativ mindestens 50 Punkte erreicht wurden. Die Benotung erfolgt proportional zu der Punktesumme aller drei Teilleistungen. Unbegründete Abwesenheit bei einer Teilleistung wird jeweils mit 0 Punkten bewertet. Es gilt Anwesenheitspflicht. Für die positive Absolvierung der LV müssen mindestens 75% Anwesenheit nachgewiesen werden.

Angemeldete und am Beginndatum unbegründet abwesende Personen werden automatisch von der Lehrveranstaltung abgemeldet. Eine konsequenzfreie, eigenständige Abmeldung von dieser LV ist via U:SPACE bis zum 17.11.2018 möglich.

Prüfungsstoff

In den TL wird der im VO Teil der LV kommunizierte Stoff abgefragt und praktische Übungen am Polarisationsmikroskop durchgeführt. Die Protokolle zu den in der TL bearbeiteten Proben werden bewertet.

Literatur

Raith, M.M., Raase, P., und Reinhardt, J. (2011) Leitfaden zur Dünnschliffmikroskopie, ISBN 978-3-00-036420-4 (PDF),
https://www.dmg-home.org/servicepublikationen/downloads/

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Do 21.02.2019 14:08