280085 UE MA-ERD-17.2 Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (PI) (2018W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Mi 12.09.2018 10:00 bis Mi 26.09.2018 23:59
- Anmeldung von Mo 01.10.2018 10:00 bis Mi 17.10.2018 23:59
- Abmeldung bis Mi 17.10.2018 23:59
Details
max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch
Lehrende
Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert
Blockkurs 15. - 27. Februar 2019, UZA2U120
Theorie:Fr 15.02.2019, 9:30 - 12:00 und 13:30 - 14:45; Raum 2C193 (Gruppen 1+2)Übungen (2 Gruppen):
Mo 18.02.2019, 9:00 – 12:15; 13:00 - 16:15; Raum 2U120 (Gruppe 1)
Di 19.02.2019, 9:00 – 12:15; 13:00 - 16:15; Raum 2U120 (Gruppe 1)
Mi 20.02.2019, 9:00 – 12:15; Raum 2U120 (Gruppe 1)Mo 25.02.2019, 9:15 – 12:30; 13:45 - 17:00; Raum 2U120 (Gruppe 2)
Di 26.02.2019, 13:45 - 17:00; Raum 2U120 (Gruppe 2)
Wed 27.02.2019, 9:15 – 12:30; 13:45 - 17:00; Raum 2U120 (Gruppe 2)Basiskenntnisse auf dem Gebiet der Rasterelektronenmikroskopie sind erforderlich (abgeschlossene LV "MA-ERD-2 Instrumentelle Analytik in den Geowissenschaften" oder Nachweis einer äquivalenten Ausbildung).
Montag
08.10.
15:00 - 16:00
Seminarraum Geochemie 2C193 1.OG UZA II
(Vorbesprechung)
Freitag
15.02.
09:30 - 12:00
Seminarraum Geochemie 2C193 1.OG UZA II
Freitag
15.02.
13:30 - 14:45
Seminarraum Geochemie 2C193 1.OG UZA II
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen (UE SEM, UE FIB); eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 5. April 2019
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen (UE SEM, UE FIB); eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 5. April 2019
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Beurteilungskriterien: eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte); UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 5. April 2019
Beurteilungskriterien: eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte); UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 5. April 2019
Prüfungsstoff
Übungen: individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät;
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über die Übungsteile UE SEM und UE FIB
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über die Übungsteile UE SEM und UE FIB
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Sa 02.04.2022 00:25
Die Studierenden sind in der Lage selbständig bildgebende Methoden der hochauflösenden Rasterelektronenmikroskopie sowie Ionenstrahlanwendungen durchzuführen. Sie kennen die instrumentellen Besonderheiten des FIB-SEM Gerätes in Theorie und Praxis. Die Studierenden erlernen die selbständige Aufnahme elektronenoptischer Bilder mit verschiedenen Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und die Anfertigung von Querschnitten unter Verwendung des fokussierten Ionenstrahls. Weiters sind die Studierenden mit den praktischen Grundlagen der EBSD- und EDX-Analytik vertraut. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostrukturanalytik an Geomaterialien zur Bearbeitung eigener Fragestellungen zu nutzen.Inhalte:
theoretische Einführung: Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Aufnahme von Sekundär- und Rückstreuelektronenbildern; STEM; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Verwendung des Mikromanipulators; EBSD; FSD