Universität Wien FIND
Lehrveranstaltungsprüfung

260086 VO Einführung in die Elektronenmikroskopie II (2010S)

2.50 ECTS (2.00 SWS), SPL 26 - Physik

Dienstag 18.01.2011

Prüfer*innen

Information

Prüfungsstoff

Vorlesung, Diskussionen, Demonstration an den Mikroskopen

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mündliche Prüfung

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Vermittelung von Kenntnissen über Materiewellen in einem Quanteninterferometer, Bedeutung der elektronenmikroskopischen Untersuchungen in der Materialphysik, Nanotechnologie, Biologie u. Medizin. Vermittelung des für die für elektronenmikroskopischen Methoden notwendigen physikalischen Wissens.

Letzte Änderung: Mi 19.08.2020 08:06