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450010 VU Powder X-ray diffractometry: The Rietveld-method and its applications (PI) (2018S)
Continuous assessment of course work
Labels
N.Ü., Vorbesprechung: Di. 6.3.2018, 2C373, 10:00 Uhr
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from Tu 13.02.2018 10:00 to Tu 27.02.2018 23:59
- Registration is open from Fr 02.03.2018 00:00 to Th 22.03.2018 23:59
- Deregistration possible until Th 22.03.2018 23:59
Details
max. 12 participants
Language: German
Lecturers
Classes
Vorbesprechung: Di, 6.4.2018, 10:00, 2C373 (Computer-Labor)
Termin: Do, 10-12 Uhr, 2C373
Ersatztermine: 4.-6.4.2018, 2C373
Information
Aims, contents and method of the course
Ergänzend zu den Lehrzielen der Lehrveranstaltungen Kristallographie und Diffraktionsmethoden (MA-ERD-11) und Mineralogische Phasenanalyse (MA-ERD-17.20) können die Studierenden moderne Methoden und Konzepte der Pulver-Röntgendiffraktometrie (PXRD) auf materialwissenschaftliche Problemstellungen anwenden. Schwerpunkte sind die Beschreibung mikrostruktureller Phaseneigenschaften mit Kurvenentfaltungsmethoden, die Strukturverfeinerung mit Hilfe der Rietveld-Methode und Verfahren zur ab-initio Strukturlösung aus Röntgen-Pulverdaten. LV-Literatur: Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer
Assessment and permitted materials
PI, Leistungskontrolle: Lösung von Problemstellungen mit dem Programmpaket TOPAS und HighScorePlus.
Minimum requirements and assessment criteria
Examination topics
Reading list
Allmann R. (2003) Röntgenpulverdiffraktometrie, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
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Last modified: Sa 23.12.2023 00:24