Universität Wien

280018 VU BA_ERD_14 Rock optical microscopy (PI) (2017W)

Continuous assessment of course work

Registration/Deregistration

Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).

Details

max. 70 participants
Language: German

Lecturers

Classes (iCal) - next class is marked with N

Monday 06.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 07.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 13.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 14.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 20.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 21.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 27.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 28.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 04.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 05.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Thursday 07.12. 16:00 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 11.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 12.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 08.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 09.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 15.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 16.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 22.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 23.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Monday 29.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
Tuesday 30.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II

Information

Aims, contents and method of the course

Die Studierenden wissen über die Phänomene der Interaktion des Lichtes mit ausreichend dünnen und transparenten Materialien und wie diese mit Hilfe des Polarisationsmikroskops zur Identifizierung von Mineralen eingesetzt werden können. Sie sind darüber hinaus in der Lage, den Mineralbestand und die Mikrostruktur eines Gesteins im Dünnschliff zu erkennen und Aussagen über dessen Namen und Bildungsbedingungen zu machen. Diese Kompetenzen wurden durch Übungen am Mikroskop erworben.

Assessment and permitted materials

Die LV enthält pi und npi Anteile und wird insgesamt in Form einer Modulprüfung nach den pi-Regeln absolviert.

Dafür sind drei, nach einem Punktesystem zu bewertende Teilleistungen an folgenden Terminen zu erbringen:
TL1: 21.11.2017 Kristalloptik, 30 Punkte
TL2: 12.12.2017 Magmatische Gesteine, 30 Punkte
TL3: 23.01.2018 Metamorphe Gesteine, 30 Punkte

Den Studierenden obliegt die Prüfung der Kollisionsfreiheit dieser Termine mit anderen Studienaktivitäten unmittelbar nach ihrer Bekanntmachung.

Zusatztermin:
TLW: 26.02.2018; An diesem Termin besteht die Möglichkeit eine durch Krankheit oder andere nachweislich widrige Umstände versäumte Teilleistung nachzuholen. Zudem wird an diesem Termin eine Verbesserungsmöglichkeit für die mit der geringsten Punktezahl bewertete Teilleistung angeboten. Dabei ist zu beachten, dass die am Nachholungstermin erbrachte Teilleistung die eventuell schon erbrachte Teilleistung ersetzt, unabhängig davon ob dadurch eine Verbesserung oder eine Verschlechterung des Ergebnisses entsteht.
Die Teilnahme an der TLW setzt eine schriftliche Anmeldung (per e-mail an den LV Leiter) bis spätestens 19.2.2018 unter Angabe der zu absolvierenden TL voraus.

Bei den Teilleistungen sind keinerlei Hilfsmittel erlaubt.

Benotungsschema:
In den drei TL werden kumulativ Punkte von maximal 90 möglichen Punkten erworben.

Erzielte Punkte Note
90 - 79 1
78 - 67 2
66 - 55 3
54 - 45 4
<45 5

Minimum requirements and assessment criteria

Die Lehrveranstaltung ist positiv absolviert, wenn kumulativ mindestens 45 Punkte erreicht wurden. Die Benotung erfolgt proportional zu der Punktesumme aller drei Teilleistungen. Unbegründete Abwesenheit bei einer Teilleistung wird jeweils mit 0 Punkten bewertet. Es gilt Anwesenheitspflicht. Für die positive Absolvierung der LV müssen mindestens 75% Anwesenheit nachgewiesen werden.

Angemeldete und am Beginndatum unbegründet abwesende Personen werden automatisch von der Lehrveranstaltung abgemeldet. Eine konsequenzfreie, eigenständige Abmeldung von dieser LV ist via E-mail an den LV Leiter (rainer.abart@univie.ac.at) bis Mi, 15.11.2017 möglich.

Examination topics

In den TL wird der im VO Teil der LV kommunizierte Stoff abgefragt und praktische Übungen am Polarisationsmikroskop durchgeführt. Entsprechende Protokolle zu den in der TL bearbeiteten Proben werden bewertet.

Reading list

Raith, M.M., Raase, P., und Reinhardt, J. (2011) Leitfaden zur Dünnschli˙mikroskopie, ISBN 978-3-00-036420-4 (PDF),
http://www.dmg-home.org/service/downloads/

Association in the course directory

Last modified: Sa 02.04.2022 00:25