260101 VO "Microscopy at the Bottom": Applications of Aberration Corrected Low Voltage TEM (2010S)
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Teil 1: Do, 15. April 2010, 15:15 Uhr
Teil 2: Di, 20. April 2010, 15:15 Uhr
Josef-Stefan-Hörsaal, Strudlhofgasse 4, 3.Stk., 1090 Wien
Teil 2: Di, 20. April 2010, 15:15 Uhr
Josef-Stefan-Hörsaal, Strudlhofgasse 4, 3.Stk., 1090 Wien
Details
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
PD250,310
Letzte Änderung: Mi 22.01.2025 00:20