260105 SE Elektronenmikroskopische Methodik (TEM) (2008S)

5.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 26 - Physik

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Details

Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

Dienstag 04.03. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 11.03. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 18.03. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 25.03. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 01.04. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 08.04. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 15.04. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 22.04. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 29.04. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 06.05. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 13.05. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 20.05. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 27.05. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 03.06. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 10.06. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 17.06. 15:00 - 17:15 Büro
Dienstag 24.06. 15:00 - 17:15 Büro

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Direkte Erfahrung der elektronenoptischen Parameter eines Elektronenmikroskopes an ausgewählten Beispielen (Eichung der Bildrotation, Zusammenhang zwischen Beugungsbild und Bild, Kontrastentstehung, etc.).

Art der Leistungskontrolle: Beurteilung gemäß Durchführung der Experimente, Verständnis, Protokoll

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Handhabung eines Durchstrahlungselektronenmikroskopes, Orientierung im reziproken Raum, physikalisches Verständnis der Informationsübertragung im Elektronenmikroskop.

Prüfungsstoff

Praktische Übungen am Transmissionselektronenmikroskop.

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

PD251,310;LA-Ph71 freies Wahlfach

Letzte Änderung: Do 20.07.2023 00:20