Achtung! Das Lehrangebot ist noch nicht vollständig und wird bis Semesterbeginn laufend ergänzt.
260149 SE Strukturanalyse durch Interferometrie mit Materiewellen (2012S)
Neueste Entwicklungen aus der Forschung
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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persönliche Anmeldung per e-mail bei: jannik.meyer@univie.ac.at bis 1.3.2012
Details
max. 8 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Neue Entwicklungen in der Strukturanalyse auf der Basis von Beugung, Streuung und Interferenz von Materiewellen. Themen sind z.B.: Ansätze zur Lösung des Phasenproblems (Ptychography, Oversampling) bei Beugungsdaten, Methoden zur direkten Strukturabbildung, Korrektur und Nutzung von Linsenfehlern in Optiken für geladene Teilchen, Ansätze zur Vermeidung von Strahlenschäden, statistische Ansätze zur Extraktion von Information aus verrauschten Datensätzen.
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Vortrag durch Seminarteilnehmer und anschließende Diskussion.
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Verständnis der grundlegenden physikalischen Prinzipien und des mathematischen Hintergrundes in abbildenden Verfahren durch die Streuung von Elektronen, Neutronen, Photonen oder anderer Teilchen, durch einem Einblick in die aktuelle Forschung.
Prüfungsstoff
Vorträge durch die Seminarteilnehmer (mit Hilfestellungen bei der Vorbereitung) mit anschließender Diskussion.
Literatur
John C. H. Spence, High-resolution electron microscopy, Oxford University Press (2009).
J. Miao, T. Ishikawa, T. Earnest and Qun Shen, Extending the Methodology of X-ray Crystallography to Allow Structure Determination of Non-Crystalline Materials, Whole Cells and Single Macromolecular Complexes (Review), Annu. Rev. Phys. Chem 59, 387-409 (2008).
J. M. Rodenburg et al., Hard-X-Ray Lensless Imaging of Extended ObjectsPhys. Rev. Lett. 98, 034801 (2007).
J. Frank, Three-dimensional electron microscopy, Oxford University Press (2006)
P. Schwander, D. Giannakis, A. Ourmazd et al., The Symmetries of Image Formation by Scattering, Arxiv:1009.5035 und arXiv:1109.5286.
J. Miao, T. Ishikawa, T. Earnest and Qun Shen, Extending the Methodology of X-ray Crystallography to Allow Structure Determination of Non-Crystalline Materials, Whole Cells and Single Macromolecular Complexes (Review), Annu. Rev. Phys. Chem 59, 387-409 (2008).
J. M. Rodenburg et al., Hard-X-Ray Lensless Imaging of Extended ObjectsPhys. Rev. Lett. 98, 034801 (2007).
J. Frank, Three-dimensional electron microscopy, Oxford University Press (2006)
P. Schwander, D. Giannakis, A. Ourmazd et al., The Symmetries of Image Formation by Scattering, Arxiv:1009.5035 und arXiv:1109.5286.
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
MaG 14, MaV 3, PD310, PD251
Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55