260195 VO Materialanalyse mit Ionenbeschleunigern II (2007S)
Materialanalyse mit Ionenbeschleunigern II
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Vorbesprechung: Di 6.3.2007, 12:00, VERA-SR, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
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Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
PD250,310;LA-Ph212(1)
Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55
MeV-Ionenstrahlen ermöglichen eine zerstörungsfreie, quantitative Analyse oberflächennaher Schichten (0-1 Micrometer). Rutherford-backscattering (RBS), Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA) und Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) werden im Detail besprochen.