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260195 VO Materialanalyse mit Ionenbeschleunigern II (2008S)

2.50 ECTS (2.00 SWS), SPL 26 - Physik

Vorbesprechung: Di 4.3.2008 12:15 VERA-SR

Details

Sprache: Deutsch

Lehrende

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Dienstag 04.03. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 11.03. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 18.03. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 25.03. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 01.04. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 08.04. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 15.04. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 22.04. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 29.04. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 06.05. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 13.05. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 20.05. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 27.05. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 03.06. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 10.06. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 17.06. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien
Dienstag 24.06. 12:15 - 13:45 Victor-Franz-Hess-Hörsaal, Währinger Straße 17, Hoftrakt, 1. Stk., 1090 Wien

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

MeV-Ionenstrahlen ermöglichen eine zerstörungsfreie, quantitative Analyse oberflächennaher Schichten (0-1 Micrometer). Rutherford-backscattering (RBS), Elastic Recoil Detection Analysis (ERDA), Particle Induced X-Ray Emission (PIXE) und Particle Induced Gamma Emission (PIGE) werden im Detail besprochen. Bei den Anwendungen steht die Analyse besonders wertvoller Kunstobjekte im Vordergrund.

Art der Leistungskontrolle: mündliche Prüfung

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Erwerb von Kenntnissen aus dem Bereich "energiereiche atomare Stossprozesse", z.B. Streuung und Energieverlust geladener Teilchen in Materie, Anregung und Ionisation von Atomen und Molekülen, Emission von Röntgen- und Gammastrahlung, Nachweis von geladenen Teilchen, Nachweis elektromagnetischer Strahlung. Erwerb von Kenntnissen aus dem Bereich "Materialanalyse", z.B. qualitative und quantitative Bestimmung der chemischen Zusammensetzung, orts- und tiefenaufgelöste Analyse, Aufbau entsprechender Messapparaturen.

Prüfungsstoff

Lehrvortrag zur Vermittlung neuen Wissens, Befragung der Studierenden bzw. Diskussion zur Feststellung bzw. Anbindung an bestehendes Wissen, Durcharbeiten einschlägiger Publikationen zum Erreichen von Praxisnähe, Vorlesungsexperimente.

Literatur

Kopien wissenschaftlicher Arbeiten aus Fachzeitschriften

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

PD250,310;LA-Ph212(1),LA-Ph212(4)

Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55