270020 SE FTIR ATR Spektroskopie von Grenzflächen (2007S)
FTIR ATR Spektroskopie von Grenzflächen, Seminar für Dissertaten und Diplomanden
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Details
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Grundlagen der FTIR-ATR Spektroskopie mit praktischen Anwendungen
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Selbständige Durchführung von Struktur- Funktionsanalysen an biologischen Systemen
Prüfungsstoff
Literatur
Harrick, N. J.: Internal reflection spectroscopy. New York:. Interscience, 2nd. Ed. (1979) Ossining, N.Y. Harrick Scientific
Fringeli UP (2000) ATR and Reflectance IR Spectroscopy, Applications. In J.C. Lindon, G.E. Tranter J.L. Holmes (eds) Encyclopedia of Spectroscopy and Spectrometry, Academic Press, 2000
Fringeli UP, Baurecht D, Bürgi T, Siam Monira, Reiter G, Schwarzott M, Brüesch P (2001) ATR Spectroscopy of Thin Films. In H.S.Nalwa (ed.) Handbook of Thin Film Materials, Vol. 2:191-229, Characterization and Spectroscopy of Thin Films, Academic Press, San Diego, USA, 2001.
Fringeli UP, Baurecht D, Bürgi T, Siam Monira, Reiter G, Schwarzott M, Brüesch P (2001) ATR Spectroscopy of Thin Films. In H.S.Nalwa (ed.) Handbook of Thin Film Materials, Vol. 2:191-229, Characterization and Spectroscopy of Thin Films, Academic Press, San Diego, USA, 2001.
Fringeli UP (2000) ATR and Reflectance IR Spectroscopy, Applications. In J.C. Lindon, G.E. Tranter J.L. Holmes (eds) Encyclopedia of Spectroscopy and Spectrometry, Academic Press, 2000
Fringeli UP, Baurecht D, Bürgi T, Siam Monira, Reiter G, Schwarzott M, Brüesch P (2001) ATR Spectroscopy of Thin Films. In H.S.Nalwa (ed.) Handbook of Thin Film Materials, Vol. 2:191-229, Characterization and Spectroscopy of Thin Films, Academic Press, San Diego, USA, 2001.
Fringeli UP, Baurecht D, Bürgi T, Siam Monira, Reiter G, Schwarzott M, Brüesch P (2001) ATR Spectroscopy of Thin Films. In H.S.Nalwa (ed.) Handbook of Thin Film Materials, Vol. 2:191-229, Characterization and Spectroscopy of Thin Films, Academic Press, San Diego, USA, 2001.
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
F300,M400
Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55