Universität Wien

270159 VO Charakterisierung von Materialien (2015W)

5.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 27 - Chemie

Information bei der Vorbesprechung der Wahlmodulgruppen, Do 01.10.2015, 13 Uhr c.t., Kleiner Hörsaal 3, 1090 Währinger Straße 38, Halbstock;

(1) Kautek (Universität Wien): 06. Oktober 2015 bis - 17. November 2015, Dienstage 14:00-16:15 h,

1090 Wien, Währinger Straße 42, 2. Stock, Raum 2247 (Dienstraum Prof.

Kautek)

(2) Rupprechter (TU): 24. November 2015 - 26. Jänner 2016,
Dienstage 14:00 bis 16:15 h,
1060 Wien, Getreidemarkt 9, Lehartrakt 1.OG, Seminarraum A46 PhysChem .

Details

max. 50 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch

Prüfungstermine

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

(Kautek) Fundamentals of Optical and Electron Microscopy, Bright and Dark Field Techniques, Phase and Interference Contrast, Fluorescence Microscopy, Fluorescence Resonance Energy Transfer (FRET), Confocal Microscopy, Nonlinear Optics - Multiphoton Fluorescence Microscopy, Second Harmonic Generation at Interfaces, Laser-Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS), Scanning Tunneling Microscopy (STM), Scanning Force Microscopy (SFM), Optical Nearfield (Fundamentals), Aperture Scanning Nonlinear Optical Microscopy (SNOM), Scattering SNOM, Apertureless SNOM, fs-SNOM, Total Internal Reflection Fluorescence (TIRF), Voltammetry of Microparticles (VMP), Electrochemical Quartz Microbalance (EQMB), In-situ Grazing Incidence X-Ray Diffractometry (GIXD), Electrochemical Nanotribology, Electrochemical Laser Activation/Depassivation, Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
(Rupprechter) Infrared-Reflection-Absorption-Spectroscopy (IRAS), Raman Spectroscopy (SERS), X-ray and UV Photoelectron Spectroscopy, Auger Spectroscopy, Microspectroscopy and Spectromicroscopy, X-ray Absorption Spectroscopy (EXAFS), X-Ray Diffraction (XRD), Low-Energy-Electron-Diffraction (LEED), Transmission-Electron-Diffraction (TED), Transmission- and Scanning Electron Microscopy, Analytical Electron Microscopy (SAED, EDX, EELS)

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Oral examination

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Fundamental understanding and interdisciplinary knowledge of the characterization of materials.

Prüfungsstoff

Interactive lecture

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Pflichtmodul Grund- und Angleichung

Letzte Änderung: Sa 08.07.2023 00:21