270203 PR Rastermikroskopische Techniken & Functional Sensing Interfaces (2024S)

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

GEMISCHT

Moodle

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Anmeldung von Sa 03.02.2024 08:00 bis Mo 26.02.2024 23:59
Abmeldung bis Mo 26.02.2024 23:59

Details

max. 6 Teilnehmer*innen

Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine

Infos folgen!

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Praktische Erfahrungen in Rasterkraftfeldmikroskopie (AFM) sammeln. Eventuell beinhaltet das Praktikum auch Rastertunnelmikroskopie (STM) und die Kombination von AFM und Raman-Mikroskopie (je nach Probenlage und Belegung des Geräts).

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Beurteilung: Praktische Arbeit, Protokollführung und abschließender Seminarvortrag. Die praktische Arbeit umfasst 50%, das Protokoll und der Vortrag je 25% der Gesamtleistung. 75% müssen zur positiven Beurteilung erreicht werden.

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Differenzierte Methodik der Untersuchung von Oberflächen. Die Proben sind teilweise dediziert für das Praktikum, teilweise stammen sie unmittelbar aus den Forschungsaufgaben der Gruppe. Davon hängen die konkret durchgeführten Experimente ab. Techniken umfassen auch bildgebende Verfahren auf Basis von Kraft-Abstands-Kurven (zB Peak Force QNM).

Prüfungsstoff

Eigenständiges Messen in der Gruppe am Gerät nach Einschulung.

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

CH-MAT-05, WA5, LMC C1, LMC D1

Letzte Änderung: Fr 12.07.2024 09:26