280074 VU MA-ERD-11 Kristallographie (PI) (2014W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Vorbesprechung am Donnerstag, 02.10.2014 von 15:00 bis 16:00 Uhr im Felix Machatschki Unterrichtsraum (2B284);
jeweils am Mi 10:30-13:00 im Seminarraum (2C373);
jeweils am Mi 10:30-13:00 im Seminarraum (2C373);
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Fr 19.09.2014 00:00 bis Fr 17.10.2014 23:59
- Abmeldung bis Fr 17.10.2014 23:59
Details
max. 20 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Modulziele: Die Studierenden besitzen vertiefende Kenntnisse in der Symmetrielehre,
können Symmetrieoperationen, translatorische und nicht-translatorische Symmetriegruppen im drei- und höherdimensionalen Raum beschreiben, und diese mittels mathematischer und graphischer Verfahren darstellen. Sie sind in der Lage Symmetrieaspekte auf die Beschreibung von atomaren Anordnungen sowie auf das in der Kristallphysik verwendete Tensorkonzept zu
übertragen. Sie haben grundlegende Kenntnisse über die physikalischen
Grundlagen der Beugung von Röntgenstrahlung, Neutronen und Elektronen an Kristallen. Sie sind in der Lage Beugungsphänomene und Beugungsdiagramme zu interpretieren, Gittergeometrien und einfache atomare Gitteranordnungen eigenständig herleiten zu können. Sie besitzen die Fähigkeiten Röntgenbeugungsverfahren zur Strukturbestimmung bzw. Phasenanalyse anwenden zu können. Die sind mit der Anwendung einfacher röntgenogra- phischer Methoden zur Einkristalluntersuchung vertraut und besitzen die Kompetenz für spezifische Fragestellungen die geeignete Methode auszuwählen und ausgewählte Messdaten interpretieren zu können.
können Symmetrieoperationen, translatorische und nicht-translatorische Symmetriegruppen im drei- und höherdimensionalen Raum beschreiben, und diese mittels mathematischer und graphischer Verfahren darstellen. Sie sind in der Lage Symmetrieaspekte auf die Beschreibung von atomaren Anordnungen sowie auf das in der Kristallphysik verwendete Tensorkonzept zu
übertragen. Sie haben grundlegende Kenntnisse über die physikalischen
Grundlagen der Beugung von Röntgenstrahlung, Neutronen und Elektronen an Kristallen. Sie sind in der Lage Beugungsphänomene und Beugungsdiagramme zu interpretieren, Gittergeometrien und einfache atomare Gitteranordnungen eigenständig herleiten zu können. Sie besitzen die Fähigkeiten Röntgenbeugungsverfahren zur Strukturbestimmung bzw. Phasenanalyse anwenden zu können. Die sind mit der Anwendung einfacher röntgenogra- phischer Methoden zur Einkristalluntersuchung vertraut und besitzen die Kompetenz für spezifische Fragestellungen die geeignete Methode auszuwählen und ausgewählte Messdaten interpretieren zu können.
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Mo 07.09.2020 15:42