280074 VU MA-ERD-11 Kristallographie (PI) (2019W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Mi 11.09.2019 10:00 bis Mi 25.09.2019 23:59
- Anmeldung von Di 01.10.2019 10:00 bis Di 15.10.2019 23:59
- Abmeldung bis Di 15.10.2019 23:59
Details
max. 20 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Mi 10:00-12:30
Raum 2B382
Beginn: 2.10.2019
Vorbesprechung: 2.10.2019
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Teilleistung 1: Mi 20.11.2019 Rechenaufgabe Matrizenrechnung Symmetrieanalyse (Abgabetermin 09.12.)
Teilleistung 2: Mi 18.12.2019 Hausaufgabe zu Raumgitterkristallographie (Abgabetermin 15.1.2020)
Teilleistung 3: nach LV Abschluss (31.1.2020) mündliches Abschlussgespräch zu theoretischen Grundlagen (spätester Termin 31.03.2020)
Teilleistung 2: Mi 18.12.2019 Hausaufgabe zu Raumgitterkristallographie (Abgabetermin 15.1.2020)
Teilleistung 3: nach LV Abschluss (31.1.2020) mündliches Abschlussgespräch zu theoretischen Grundlagen (spätester Termin 31.03.2020)
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Modulziele: Die Studierenden besitzen vertiefende Kenntnisse in der Symmetrielehre,
können Symmetrieoperationen, translatorische und nicht-translatorische Symmetriegruppen im drei- und höherdimensionalen Raum beschreiben, und diese mittels mathematischer und graphischer Verfahren darstellen. Sie sind in der Lage Symmetrieaspekte auf die Beschreibung von atomaren Anordnungen sowie auf das in der Kristallphysik verwendete Tensorkonzept zu übertragen. Sie haben grundlegende Kenntnisse über die physikalischen Grundlagen der Beugung von Röntgenstrahlung, Neutronen und Elektronen an Kristallen. Sie sind in der Lage Beugungsphänomene und Beugungsdiagramme zu interpretieren, Gittergeometrien und einfache atomare Gitteranordnungen eigenständig herleiten zu können. Sie besitzen die Fähigkeiten Röntgenbeugungsverfahren zur Strukturbestimmung bzw. Phasenanalyse anwenden zu können. Die sind mit der Anwendung einfacher röntgenographischer Methoden zur Einkristalluntersuchung vertraut und besitzen die Kompetenz für spezifische Fragestellungen die geeignete Methode auszuwählen und ausgewählte Messdaten interpretieren zu können.
können Symmetrieoperationen, translatorische und nicht-translatorische Symmetriegruppen im drei- und höherdimensionalen Raum beschreiben, und diese mittels mathematischer und graphischer Verfahren darstellen. Sie sind in der Lage Symmetrieaspekte auf die Beschreibung von atomaren Anordnungen sowie auf das in der Kristallphysik verwendete Tensorkonzept zu übertragen. Sie haben grundlegende Kenntnisse über die physikalischen Grundlagen der Beugung von Röntgenstrahlung, Neutronen und Elektronen an Kristallen. Sie sind in der Lage Beugungsphänomene und Beugungsdiagramme zu interpretieren, Gittergeometrien und einfache atomare Gitteranordnungen eigenständig herleiten zu können. Sie besitzen die Fähigkeiten Röntgenbeugungsverfahren zur Strukturbestimmung bzw. Phasenanalyse anwenden zu können. Die sind mit der Anwendung einfacher röntgenographischer Methoden zur Einkristalluntersuchung vertraut und besitzen die Kompetenz für spezifische Fragestellungen die geeignete Methode auszuwählen und ausgewählte Messdaten interpretieren zu können.
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Fr 13.12.2024 00:17