280085 UE MA-ERD-17.2 Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (PI) (2015W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
Labels
Voraussetzung sind grundlegende Kenntnisse der Rasterelektronenmikroskopie ("MA-ERD-2 Instrumentelle Analytik in den Geowissenschaften" oder Nachweis gleichwertiger Kenntnisse)
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Mo 14.09.2015 10:00 bis Mo 28.09.2015 23:59
- Anmeldung von Mo 05.10.2015 10:00 bis Mo 19.10.2015 23:59
- Abmeldung bis Mo 19.10.2015 23:59
Details
max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert
Block im Februar 2016 (voraussichtlich 12.-19. Februar 2016; Terminfestlegung bei der Vorbesprechung).
Termine - siehe Aushänge des Departments für Lithosphärenforschung!
Dienstag
13.10.
16:00 - 16:45
Hörsaal 1 2A120 1.OG UZA II Geo-Zentrum
(Vorbesprechung)
Freitag
13.11.
12:30 - 16:45
Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig eine SE- und BSE-Aufnahme nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterium: schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 48 Punkte); UE SEM (max 26 Punkte); UE-FIB (max 26 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
(Abgabe des Workflow-Protokolls bis 28. April 2016)
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig eine SE- und BSE-Aufnahme nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterium: schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 48 Punkte); UE SEM (max 26 Punkte); UE-FIB (max 26 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
(Abgabe des Workflow-Protokolls bis 28. April 2016)
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Die Studierenden sind in der Lage selbständig bildgebende Methoden der hochauflösenden Rasterelektronenmikroskopie sowie Ionenstrahlanwendungen durchzuführen. Sie kennen die instrumentellen Besonderheiten des FIB-SEM Gerätes in Theorie und Praxis. Die Studierenden erlernen die selbständige Aufnahme elektronenoptischer Bilder mit verschiedenen Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und die Anfertigung von Querschnitten unter Verwendung des fokussierten Ionenstrahls. Weiters sind die Studierenden mit den praktischen Grundlagen der EBSD- und EDX-Analytik vertraut. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostrukturanalytik an Geomaterialien zur Bearbeitung eigener Fragestellungen zu nutzen.
Prüfungsstoff
theoretische Einführung: Vorlesung;
Übungen: Demonstration, sowie individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät
Übungen: Demonstration, sowie individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Sa 02.04.2022 00:25
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Aufnahme von Sekundär- und Rückstreuelektronenbildern; STEM; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Mikromanipulator; EBSD; FSD