Universität Wien

280085 UE MA-ERD-17.2 Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (PI) (2015W)

3.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Voraussetzung sind grundlegende Kenntnisse der Rasterelektronenmikroskopie ("MA-ERD-2 Instrumentelle Analytik in den Geowissenschaften" oder Nachweis gleichwertiger Kenntnisse)
Moodle

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

Block im Februar 2016 (voraussichtlich 12.-19. Februar 2016; Terminfestlegung bei der Vorbesprechung).
Termine - siehe Aushänge des Departments für Lithosphärenforschung!

  • Dienstag 13.10. 16:00 - 16:45 Hörsaal 1 2A120 1.OG UZA II Geo-Zentrum (Vorbesprechung)
  • Freitag 13.11. 12:30 - 16:45 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

theoretische Einführung: Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Aufnahme von Sekundär- und Rückstreuelektronenbildern; STEM; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Mikromanipulator; EBSD; FSD

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig eine SE- und BSE-Aufnahme nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterium: schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 48 Punkte); UE SEM (max 26 Punkte); UE-FIB (max 26 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
(Abgabe des Workflow-Protokolls bis 28. April 2016)

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Die Studierenden sind in der Lage selbständig bildgebende Methoden der hochauflösenden Rasterelektronenmikroskopie sowie Ionenstrahlanwendungen durchzuführen. Sie kennen die instrumentellen Besonderheiten des FIB-SEM Gerätes in Theorie und Praxis. Die Studierenden erlernen die selbständige Aufnahme elektronenoptischer Bilder mit verschiedenen Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und die Anfertigung von Querschnitten unter Verwendung des fokussierten Ionenstrahls. Weiters sind die Studierenden mit den praktischen Grundlagen der EBSD- und EDX-Analytik vertraut. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostrukturanalytik an Geomaterialien zur Bearbeitung eigener Fragestellungen zu nutzen.

Prüfungsstoff

theoretische Einführung: Vorlesung;
Übungen: Demonstration, sowie individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Do 31.10.2024 00:16