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Achtung! Das Lehrangebot ist noch nicht vollständig und wird bis Semesterbeginn laufend ergänzt.

280085 UE MA-ERD-17.2 Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (PI) (2016W)

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Vorbesprechung (obligatorisch) Di 11.10.2016, 15:00- 16:00 Uhr, 2C315
Fr 17.02.2017, 9:30 - 12:00 und 13:30 - 14:45; Raum 2C315
Mo 20.02.2017, 9:15 - 17:00; Raum 2U120;
Di 21.02.2017, 9:15 - 17:00; Raum 2U120;
Mi 22.02.2017, 9:15 - 17:00; Raum 2U120;
D0 23.02.2017, 9:15 - 17:00; Raum 2U120;
Fr 24.02.2017, 9:15 - 17:00; Raum 2U120;

Studierende, die bei der Vorbesprechung abwesend sind, werden von der LV-Leitung abgemeldet

Blockkurs 17.2. - 24.2.2017

Voraussetzung sind grundlegende Kenntnisse der Rasterelektronenmikroskopie ("MA-ERD-2 Instrumentelle Analytik in den Geowissenschaften" oder Nachweis gleichwertiger Kenntnisse)

Details

max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

Terminänderungen bei der Vorbesprechung am 11. Oktober 2016 sind nach Absprache mit Teilnehmerinnen und Teilnehmern möglich

Dienstag 11.10. 15:00 - 16:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II (Vorbesprechung)
Freitag 17.02. 09:30 - 12:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
Freitag 17.02. 13:30 - 14:45 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Ziele:
Die Studierenden sind in der Lage selbständig bildgebende Methoden der hochauflösenden Rasterelektronenmikroskopie sowie Ionenstrahlanwendungen durchzuführen. Sie kennen die instrumentellen Besonderheiten des FIB-SEM Gerätes in Theorie und Praxis. Die Studierenden erlernen die selbständige Aufnahme elektronenoptischer Bilder mit verschiedenen Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und die Anfertigung von Querschnitten unter Verwendung des fokussierten Ionenstrahls. Weiters sind die Studierenden mit den praktischen Grundlagen der EBSD- und EDX-Analytik vertraut. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostrukturanalytik an Geomaterialien zur Bearbeitung eigener Fragestellungen zu nutzen.

Inhalte:
theoretische Einführung: Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Aufnahme von Sekundär- und Rückstreuelektronenbildern; STEM; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Mikromanipulator; EBSD; FSD

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig eine SE- und BSE-Aufnahme nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterium: schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte); UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
(Abgabe des Workflow-Protokolls bis 19. April 2017)

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig eine SE- und BSE-Aufnahme nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterium: schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte); UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
(Abgabe des Workflow-Protokolls bis 19. April 2017)

Prüfungsstoff

Übungen: individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät
Verfassung eines Workflowprotokolls über die Übungsteile (Erstellung von SE- und BSE Aufnahmen; Erstellung eines Querschnittes unter Anwendung des fokusierten Ionenstrahls)

Literatur


Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 08:55