Universität Wien

280085 UE MA-ERD-17.2 Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (PI) (2019W)

3.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch

Lehrende

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Blockkurs: Kurstermin 17.2. - 24.2. 2020

Theorieteil (beide Gruppen):
Mo 17. Feb. 2020, 9:30 - 12:00 und 13:15 - 14:30, Raum 2C193

Übungsteil:
Gruppe 1
Di 18.02.2020, 9:15 – 12:30; 13:30 - 16:45; Raum 2U120
Mi 19.02.2020, 9:15 – 12:30; 13:30 - 16:45; Raum 2U120
Do 20.02.2020, 9:15 – 12:30; Raum 2U120

Gruppe 2
Do 20.02.2020, 13:30 - 16:45; Raum 2U120
Fr 21.02.2020, 9:15 – 12:30; 13:30 - 16:45; Raum 2U120
Mo 24.02.2020, 9:15 – 12:30; 13:30 - 16:45; Raum 2U120

  • Montag 21.10. 15:45 - 16:30 Seminarraum Paläontologie 2B311 3.OG UZA II (Vorbesprechung)

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Ziele:
Die Studierenden sind in der Lage selbständig bildgebende Methoden der hochauflösenden Rasterelektronenmikroskopie sowie Ionenstrahlanwendungen durchzuführen. Sie kennen die instrumentellen Besonderheiten des FIB-SEM Gerätes in Theorie und Praxis. Die Studierenden erlernen die selbständige Aufnahme elektronenoptischer Bilder mit verschiedenen Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und die Anfertigung von Querschnitten unter Verwendung des fokussierten Ionenstrahls. Weiters sind die Studierenden mit den praktischen Grundlagen der EBSD- und EDX-Analytik vertraut. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostrukturanalytik an Geomaterialien zur Bearbeitung eigener Fragestellungen zu nutzen.

Inhalte:
theoretische Einführung: Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Aufnahme von Sekundär- und Rückstreuelektronenbildern; STEM; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Verwendung des Mikromanipulators; EBSD; FSD

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen (UE SEM, UE FIB); eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 31. März 2020

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Beurteilungskriterien: eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte); UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 31. March 2020

Prüfungsstoff

Übungen: individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät;
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über die Übungsteile UE SEM und UE FIB

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Sa 02.04.2022 00:25