Universität Wien

280122 UE Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahlanwendungen (2024W)

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 10 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

Vorbesprechung am 23. Oktober 2024, 15:00 – 16:00 (Raum UZA 2B311).
Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist für alle Kursteilnehmer*innen verpflichtend!!!

Die LV wird als Blockkurs vor Ort voraussichtlich im Zeitraum 12.-21. Februar 2025 abgehalten. Die Terminfestlegung erfolgt in Abstimmung mit den Studierenden im Zuge der Vorbesprechung.

  • Mittwoch 23.10. 15:00 - 16:00 Seminarraum Paläontologie 2B311 3.OG UZA II (Vorbesprechung)
  • Montag 17.02. 13:15 - 14:30 Seminarraum Paläontologie 2B311 3.OG UZA II

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Ziele:
Die Studierenden haben die speziellen instrumentellen Besonderheiten der hochauflösenden Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie in Theorie und Praxis kennengelernt und sind mit Anwendungsmethoden des fokussierten Ionenstrahls (FIB) vertraut. Die Studierenden erstellen selbständig hochauflösende elektronenoptische Aufnahmen unter Verwendung verschiedener Detektoren (SED, BSED, FSD, STEM) und erlernen die Anfertigung von FIB-Querschnitten. Weiters haben die Studierenden Einblick in die praktische Anwendung der EBSD Methode erhalten. Sie sind in der Lage, die verschiedenen Methoden für Mikrostruktur- und Texturanalytik bei hoher räumlicher Auflösung zur Bearbeitung eigener erdwissenschaftlicher Fragestellungen zu nutzen.

Inhalt:
theoretische Einführung: spezielle instrumentelle Besonderheiten des Quanta 3D FEG Gerätes (E-Quelle and E-Säule, FIB, Detektoren)
Übungen am Quanta 3D FEG Gerät: Hardware; Software; Probenwechsel; Sekundärelektronen- und Rückstreuelektronen-Abbildung; STEM-Abbildung; EDX; FIB; Gasinjektionssysteme; Verwendung des Mikromanipulators; EBSD; FSD

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Im Rahmen der Übungen erstellt jede/r Studierende selbständig SE- und BSE-Aufnahmen nach Einstellung der erforderlichen Elektronenstrahl-Parameter (UE SEM), sowie einen Querschnitt unter Verwendung des fokusierten Ionenstrahls (UE FIB).
Beurteilungskriterien: aktive Teilnahme an den Übungen; eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll über alle Übungsteile.
Abgabe des Workflow-Protokolls bis 31. März 2025

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Durchgehende Anwesenheit während der Übungen ist Voraussetzung für einen positiven Abschluss der LV.
Beurteilungskriterien:
- aktive Teilnahme an den Übungen: UE SEM (max 20 Punkte); UE-FIB (max 20 Punkte)
- eigenständig verfasstes schriftliches Workflow-Protokoll der Übungen (max 60 Punkte). Abgabe des Workflow-Protokolls bis 31. März 2025

Die erreichten Punkte für die Teilleistungen (UE-SEM, UE-FIB, Workflow-Protokoll) werden zur Ermittlung der Gesamtnote addiert.
Gesamtpunktezahl für positiven Abschluss: maximal 100 Punkte, minimal 50 Punkte

Beurteilungsschlüssel:
100-89 Punkte (Sehr Gut, 1)
88-76 Punkte (Gut, 2)
75-63 Punkte (Befriedigend, 3)
62-50 Punkte (Genügend, 4)
49-0 Punkte (Nicht Genügend, 5)

Prüfungsstoff

Individuelle Arbeit unter Aufsicht am Quanta 3D FEG Gerät während der Übungen.
Eigenständige Verfassung eines Workflowprotokolls über sämtliche Übungsteile.

Literatur


Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

MA-ERD-W3.3

Letzte Änderung: Do 31.10.2024 19:46