Universität Wien

280190 VO+UE Microstructure analysis using Scanning Electron Microscopy and Ion Beam Technique (2013W)

3.00 ECTS (2.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Zeit: Block im Februar 2014

Vorbesrpechung: Di 08.10.13, 15:15 Uhr pünktlich!, Friedrich Becke Seminar, 2C315
Ort: Vorlesungsteil: Friedrich Becke Seminar, 2C315
Übungsteil: 2U120 FEG-SEM-FIB Labor

Voraussetzung: Instrumentelle Methoden II
Moodle

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 8 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch, Englisch

Lehrende

Termine (iCal) - nächster Termin ist mit N markiert

  • Dienstag 08.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II (Vorbesprechung)
  • Dienstag 15.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 22.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 29.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 05.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 12.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 19.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 26.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 03.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 10.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 17.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 07.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 14.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 21.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Dienstag 28.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

An der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie, Erdwissenschaftliches Zentrum, wurde ein neues Labor für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik eingerichtet. Dieses Labor bietet eine absolut zeitgemäße Analytikplattform für die Materialcharakterisierung mit hoher räumlicher Auflösung (im nm Bereich) und Zugang zu dreidimensionalen Strukturen über die Materialbearbeitung mittels fokussiertem Ionenstrahl. Mit diesem Kurs wollen wir die Studierenden der Geowissenschaften an die Möglichkeiten dieser Einrichtung heranführen. Im Vorlesungsteil werden die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie insbesondere im Hinblick auf die Besonderheiten der Feldemission und die Grundlagen der Ionenstrahltechnik besprochen. Den Hauptteil der Lehrveranstaltung wird die Arbeit am Gerät ausmachen. Es werden im REM Modus elektronenoptische Bilder mit allen am Gerät verfügbaren Detektoren (SE, BSE, …) angefertigt. An elektronentransparenten Proben wird die Methode der Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erlernt.

Für weiterführende Anwendungen wie die Elementanalytik mittels EDX System, crystal orientation imaging mittels Back Scatter Electron Diffraction (EBSD) und die 3D Rekonstruktion von Mikrostrukturen aus FIB Serienschnitten werden separate Kurse angeboten.

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Prüfungsstoff

Literatur

Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Sa 02.04.2022 00:25