280200 VO+UE Mikrostrukturanalytik mittels Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik (2011W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Zeit: Block im Februar 2012Vorbesprechung: Di 10. Jänner 2012, 16:00 Uhr, Friedrich Becke Seminar, 2C315Ort: Vorlesungsteil: Friedrich Becke Seminar, 2C315
Übungsteil: 2U120 FEG-SEM-FIB Labor
Voraussetzung: Instrumentelle Methoden II
Übungsteil: 2U120 FEG-SEM-FIB Labor
Voraussetzung: Instrumentelle Methoden II
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Do 15.09.2011 00:00 bis Do 29.09.2011 23:59
- Anmeldung von Mo 03.10.2011 00:00 bis Mi 30.11.2011 23:59
- Abmeldung bis Mi 30.11.2011 23:59
Details
max. 8 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
An der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie, Erdwissenschaftliches Zentrum, wurde ein neues Labor für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik eingerichtet. Dieses Labor bietet eine absolut zeitgemäße Analytikplattform für die Materialcharakterisierung mit hoher räumlicher Auflösung (im nm Bereich) und Zugang zu dreidimensionalen Strukturen über die Materialbearbeitung mittels fokussiertem Ionenstrahl. Mit diesem Kurs wollen wir die Studierenden der Geowissenschaften an die Möglichkeiten dieser Einrichtung heranführen. Im Vorlesungsteil werden die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie insbesondere im Hinblick auf die Besonderheiten der Feldemission und die Grundlagen der Ionenstrahltechnik besprochen. Den Hauptteil der Lehrveranstaltung wird die Arbeit am Gerät ausmachen. Es werden im REM Modus elektronenoptische Bilder mit allen am Gerät verfügbaren Detektoren (SE, BSE, …) angefertigt. An elektronentransparenten Proben wird die Methode der Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erlernt.Für weiterführende Anwendungen wie die Elementanalytik mittels EDX System, crystal orientation imaging mittels Back Scatter Electron Diffraction (EBSD) und die 3D Rekonstruktion von Mikrostrukturen aus FIB Serienschnitten werden separate Kurse angeboten.
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Mo 07.09.2020 15:42