280517 VO+UE Mikrostrukturanalytik mittels Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik (2010W)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Blockveranstaltung.
Terminvereinbarung im Rahmen der Vorbesprechung.Vorbesprechung am Di. 12.10.16:00 Uhr im Friedrich Becke Seminarraum, 2C315.Teilnehmerzahl: max. 8 !Für Fortgeschrittene!
Terminvereinbarung im Rahmen der Vorbesprechung.Vorbesprechung am Di. 12.10.16:00 Uhr im Friedrich Becke Seminarraum, 2C315.Teilnehmerzahl: max. 8 !Für Fortgeschrittene!
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Do 16.09.2010 06:00 bis Do 30.09.2010 14:00
- Anmeldung von Mo 04.10.2010 14:00 bis Di 30.11.2010 09:00
- Abmeldung bis Di 30.11.2010 09:00
Details
max. 8 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Zur Zeit sind keine Termine bekannt.
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Leistungsnachweis: Vorlesungsteil durch mündliche Abschlussprüfung. Übungsteil: 3 Teilleistungen in Form von selbständig ausgearbeiteten Übungsaufgaben.
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
An der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie, Erdwissenschaftliches Zentrum, wurde ein neues Labor für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik eingerichtet. Dieses Labor bietet eine absolut zeitgemäße Analytikplattform für die Materialcharakterisierung mit hoher räumlicher Auflösung (im nm Bereich) und Zugang zu dreidimensionalen Strukturen über die Materialbearbeitung mittels fokussiertem Ionenstrahl. Mit diesem Kurs wollen wir die Studierenden der Geowissenschaften an die Möglichkeiten dieser Einrichtung heranführen. Im Vorlesungsteil werden die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie insbesondere im Hinblick auf die Besonderheiten der Feldemission und die Grundlagen der Ionenstrahltechnik besprochen. Den Hauptteil der Lehrveranstaltung wird die Arbeit am Gerät ausmachen. Es werden im REM Modus elektronenoptische Bilder mit allen am Gerät verfügbaren Detektoren (SE, BSE,
) angefertigt. An elektronentransparenten Proben wird die Methode der Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erlernt. Für weiterführende Anwendungen wie die Elementanalytik mittels EDX System, crystal orientation imaging mittels Back Scatter Electron Diffraction (EBSD) und die 3D Rekonstruktion von Mikrostrukturen aus FIB Serienschnitten werden separate Kurse angeboten.
Leistungsnachweis: Vorlesungsteil durch mündliche Abschlussprüfung. Übungsteil: 3 Teilleistungen in Form von selbständig ausgearbeiteten Übungsaufgaben.
Leistungsnachweis: Vorlesungsteil durch mündliche Abschlussprüfung. Übungsteil: 3 Teilleistungen in Form von selbständig ausgearbeiteten Übungsaufgaben.
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Mo 07.09.2020 15:42