Universität Wien

280517 VO+UE Mikrostrukturanalytik mittels Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik (2010W)

Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Blockveranstaltung.
Terminvereinbarung im Rahmen der Vorbesprechung.

Vorbesprechung am Di. 12.10.16:00 Uhr im Friedrich Becke Seminarraum, 2C315.

Teilnehmerzahl: max. 8 !

Für Fortgeschrittene!

An/Abmeldung

Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").

Details

max. 8 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Leistungsnachweis: Vorlesungsteil durch mündliche Abschlussprüfung. Übungsteil: 3 Teilleistungen in Form von selbständig ausgearbeiteten Übungsaufgaben.

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

An der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie, Erdwissenschaftliches Zentrum, wurde ein neues Labor für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik eingerichtet. Dieses Labor bietet eine absolut zeitgemäße Analytikplattform für die Materialcharakterisierung mit hoher räumlicher Auflösung (im nm Bereich) und Zugang zu dreidimensionalen Strukturen über die Materialbearbeitung mittels fokussiertem Ionenstrahl. Mit diesem Kurs wollen wir die Studierenden der Geowissenschaften an die Möglichkeiten dieser Einrichtung heranführen. Im Vorlesungsteil werden die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie insbesondere im Hinblick auf die Besonderheiten der Feldemission und die Grundlagen der Ionenstrahltechnik besprochen. Den Hauptteil der Lehrveranstaltung wird die Arbeit am Gerät ausmachen. Es werden im REM Modus elektronenoptische Bilder mit allen am Gerät verfügbaren Detektoren (SE, BSE, …) angefertigt. An elektronentransparenten Proben wird die Methode der Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erlernt. Für weiterführende Anwendungen wie die Elementanalytik mittels EDX System, crystal orientation imaging mittels Back Scatter Electron Diffraction (EBSD) und die 3D Rekonstruktion von Mikrostrukturen aus FIB Serienschnitten werden separate Kurse angeboten.
Leistungsnachweis: Vorlesungsteil durch mündliche Abschlussprüfung. Übungsteil: 3 Teilleistungen in Form von selbständig ausgearbeiteten Übungsaufgaben.

Prüfungsstoff

Literatur


Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

Letzte Änderung: Mo 07.09.2020 15:42