450010 VU Pulver-Röntgendiffraktometrie: Die Rietveld-Methode und ihre Anwendungen (2016S)
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Vorbesprechung: Di. 1.3.2016, 10:00 Uhr, 2C373
An/Abmeldung
Hinweis: Ihr Anmeldezeitpunkt innerhalb der Frist hat keine Auswirkungen auf die Platzvergabe (kein "first come, first served").
- Anmeldung von Mi 10.02.2016 00:00 bis Mi 24.02.2016 23:59
- Anmeldung von Di 01.03.2016 00:00 bis Do 17.03.2016 00:00
- Abmeldung bis Do 17.03.2016 00:00
Details
max. 12 Teilnehmer*innen
Sprache: Deutsch
Lehrende
Termine
Termin: Mo., 13:00-15:00, 2C373, Beginn 7.3.2016
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Ergänzend zu den Lehrzielen der Lehrveranstaltungen Kristallographie und Diffraktionsmethoden (MA-ERD-11) und Mineralogische Phasenanalyse (MA-ERD-17.20) können die Studierenden moderne Methoden und Konzepte der Pulver-Röntgendiffraktometrie (PXRD) auf materialwissenschaftliche Problemstellungen anwenden. Schwerpunkte sind die Beschreibung mikrostruktureller Phaseneigenschaften mit Kurvenentfaltungsmethoden, quantitative Phasenanalyse, die Strukturverfeinerung mit Hilfe der Rietveld-Methode und Verfahren zur ab-initio Strukturlösung aus Röntgen-Pulverdaten. Die Studierenden können die Programmpakete TOPAS und HighScore anweden.
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Lösung von Problemstellungen mit den Programmpaketen TOPAS und HighScore
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Prüfungsstoff
Literatur
Allmann R. (2003) Röntgenpulverdiffraktometrie, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
Letzte Änderung: Sa 23.12.2023 00:24