814233 VO Einführung in die Elektronenmikroskopie I (2003W)
Einführung in die Elektronenmikroskopie I
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung
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Di 11:15-12:45 kl. Hs. d. Inst. f. Materialphysik, 3. Stock
Einsatzbereiche und Methoden elektronenmikroskopischer Untersuchungen, elektronenoptischer Aufbau der Mikroskope, Materiewellen, Elektronenbeugung und Abbildung von Kristallstrukturen, Vor Ort Erklärungen und Demonstrationen an den 3 Elektronenmikroskopen des Inst. f. Materialphysik
Ziel: Elektronenmikroskopische Untersuchungen sind nicht nur in der Materialphysik, sondern auch in Biologie und Medizin von großer Bedeutung. Das f. die elektronenmikroskopischen Methoden notwendige physikalische Verständnis vermittelt die Vorlesung.
Einsatzbereiche und Methoden elektronenmikroskopischer Untersuchungen, elektronenoptischer Aufbau der Mikroskope, Materiewellen, Elektronenbeugung und Abbildung von Kristallstrukturen, Vor Ort Erklärungen und Demonstrationen an den 3 Elektronenmikroskopen des Inst. f. Materialphysik
Ziel: Elektronenmikroskopische Untersuchungen sind nicht nur in der Materialphysik, sondern auch in Biologie und Medizin von großer Bedeutung. Das f. die elektronenmikroskopischen Methoden notwendige physikalische Verständnis vermittelt die Vorlesung.
Details
Information
Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung
Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel
Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab
Elektronenmikroskopische Untersuchungen sind nicht nur in der Materialphysik, sondern auch in Biologie und Medizin von großer Bedeutung. Das für die elektronenmikroskopischen Methoden notwendige physikalische Verständnis vermittelt die Vorlesung.
Prüfungsstoff
Literatur
Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis
PD 250; P 251c, d; PL 251c2, d; LA-Ph 211
Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 09:01
Einsatzbereiche und Methoden elektronenmikroskopischer Untersuchungen, elektronenoptischer Aufbau der Mikroskope, Materiewellen, Elektronenbeugung und Abbildungen von Kristallstrukturen, Vor Ort Erklärungen und Demonstrationen an den 3 Elektronenmikroskopen des Inst. f. Materialphysik.