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880572 SE Elektronenmikroskopische Methodik (TEM) (2005S)

Elektronenmikroskopische Methodik (TEM)

0.00 ECTS (3.00 SWS), SPL 26 - Physik
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung

Zi.78 d.Inst.f.Materialphysik (2. Stock), Strudlhofg. 4, 1090 Wien

Details

Sprache: Deutsch

Lehrende

Termine

Zur Zeit sind keine Termine bekannt.

Information

Ziele, Inhalte und Methode der Lehrveranstaltung

ECTS-Punkte: 8
Direkte Erfahrung der elektronenoptischen Parameter eines Elektronenmikroskopes an ausgewählten Beispielen (Eichung der Bildrotation, Zusammenhang zwischen Beugungsbild und Bild, Kontrastentstehung, etc.).

Art der Leistungskontrolle und erlaubte Hilfsmittel

Mindestanforderungen und Beurteilungsmaßstab

Handhabung eines Durchstrahlungselektronenmikroskopes, Orientierung im reziproken Raum, physikalisches Verständnis der Informationsübertragung im Elektronenmikroskop.

Prüfungsstoff

Literatur


Zuordnung im Vorlesungsverzeichnis

PD251,310;P251d;LA-Ph212(3)

Letzte Änderung: Fr 31.08.2018 09:01