W0_66 Themen der erdwissenschaftlichen Vertiefung II
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280190 VO+UE 3 ECTS [ de en ] Microstructure analysis using Scanning Electron Microscopy and Ion Beam TechniqueAbart, Di 15:15-17:00 (15×)
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Göd, Mo 13:30-15:00 (14×)
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Petrakakis, Di 17:00-19:00 (16×), Mi 16:00-18:00 (16×), Do 16:00-18:00 (15×), Fr 14:00-16:00 (14×)
Letzte Änderung: Mi 13.06.2018 00:38