W0_66 Themen der erdwissenschaftlichen Vertiefung II
280190 VO+UE 3 ECTS [de en] Microstructure analysis using Scanning Electron Microscopy and Ion Beam Technique
Abart, Di 15:15-17:00 (15×)
Göd, Mo 13:30-15:00 (14×)
Petrakakis, Di 17:00-19:00 (16×), Mi 16:00-18:00 (16×), Do 16:00-18:00 (15×), Fr 14:00-16:00 (14×)
Letzte Änderung: Mi 13.06.2018 00:38