260058 LP Lab-Course: Nanotechnology: Concepts, Methods, Materials (2023S)
Continuous assessment of course work
Labels
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from We 01.02.2023 08:00 to Th 23.02.2023 07:00
- Deregistration possible until Fr 31.03.2023 23:59
Details
max. 8 participants
Language: German
Lecturers
Classes (iCal) - next class is marked with N
- Wednesday 08.03. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 15.03. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 22.03. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 29.03. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 19.04. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 26.04. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 03.05. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 10.05. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 17.05. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 24.05. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 31.05. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 07.06. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 14.06. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
- Wednesday 21.06. 09:00 - 12:00 Seminarraum, Zi. 3354A, Boltzmanngasse 5, 3. Stk., 1090 Wien
Information
Aims, contents and method of the course
Assessment and permitted materials
Prüfungsimmanente Lehrveranstaltung.
Beantwortung von Fragen, Mitarbeit während der Durchführung des Experiments, Protokolle.
Beantwortung von Fragen, Mitarbeit während der Durchführung des Experiments, Protokolle.
Minimum requirements and assessment criteria
Mindestanforderung:
- Anwesenheitspflicht
- Verständnis und Beteiligung an der Durchführung der Experimente
- Verpflichtende Abgabe von 4 ProtokollenFür eine positive Beurteilung der Lehrveranstaltung müssen bei jedem Beispiel mindestens 50% der Punkte erreicht werden. Die Abwesenheit von mehr als einer Einheit erfordert einen formell nachvollziehbaren Entschuldigungsgrund.Die Beurteilung erfolgt nach einem Punktesystem (max. 10 Punkte pro Beispiel erreichbar) und basiert auf
- der Beteiligung bei der Besprechung (Vorbereitung),
- der Beantwortung von Fragen zum Experiment,
- der Mitarbeit und Durchführung der Experimente und
- der Erstellung der Protokolle zu den Experimenten.Beurteilungsmaßstab:
- Verständnis der Experimente und der physikalischen Prinzipien: 50% der Gesamtpunkte
- Protokolle: 50% der GesamtpunkteDer Notenschlüssel zur Beurteilung ist:
Sehr gut: 100,00% – 87,00%
Gut: 86,99% – 75,00%
Befriedigend: 74,99% – 63,00%
Genügend: 62,99% – 50,00%
Nicht genügend: 49,99% – 0,00%
- Anwesenheitspflicht
- Verständnis und Beteiligung an der Durchführung der Experimente
- Verpflichtende Abgabe von 4 ProtokollenFür eine positive Beurteilung der Lehrveranstaltung müssen bei jedem Beispiel mindestens 50% der Punkte erreicht werden. Die Abwesenheit von mehr als einer Einheit erfordert einen formell nachvollziehbaren Entschuldigungsgrund.Die Beurteilung erfolgt nach einem Punktesystem (max. 10 Punkte pro Beispiel erreichbar) und basiert auf
- der Beteiligung bei der Besprechung (Vorbereitung),
- der Beantwortung von Fragen zum Experiment,
- der Mitarbeit und Durchführung der Experimente und
- der Erstellung der Protokolle zu den Experimenten.Beurteilungsmaßstab:
- Verständnis der Experimente und der physikalischen Prinzipien: 50% der Gesamtpunkte
- Protokolle: 50% der GesamtpunkteDer Notenschlüssel zur Beurteilung ist:
Sehr gut: 100,00% – 87,00%
Gut: 86,99% – 75,00%
Befriedigend: 74,99% – 63,00%
Genügend: 62,99% – 50,00%
Nicht genügend: 49,99% – 0,00%
Examination topics
Vorbereitung mittels Literatur, Durchführung und Diskussion der Experimente, Protokollierung
Reading list
Wird über moodle-Kurs zur Verfügung gestellt.
Association in the course directory
WLP 5, UF MA PHYS 01a, UF MA PHYS 01b
Last modified: Mo 06.03.2023 12:29
Ziel:
Verständnis der linearen und nichtlinearen Wechselwirkungen zwischen Licht und Materie anhand von Experimenten. Die Studierenden lernen relevante lichtoptische Experimente zu erstellen und aufzubauen, erhaltene Daten auszuwerten und die so gewonnenen Ergebnisse physikalisch zu interpretieren.
Inhalt:
* Aufbau eines Mach-Zehnder Interferometers zum
* Aufzeichnen eines elementaren Hologramms (Nanostruktur) in einem
* nichtlinearen optischen Kristall oder einem Polymer und
* Bestimmung relevanter Größen wie Gitterkonstante und Brechwertmodulation durch Beugungsexperimente
Methode:
Die Studierenden führen photonische Experimente unter Anleitung durch und stellen diese sowie die erhaltenen Ergebnisse in Kurzvorträgen dar.Röntgenkleinwinkelstreuung an weichen Materialien
Ziel: Untersuchungen zur Struktur weicher Materie auf der nm-Skala mit Hilfe von Röntgenkleinwinkelstreuung. Die Studierenden lernen anhand verschiedener Beispielen Experimente durchzuführen, Messdaten aus 2D-Streuexperimenten zu analysieren und aus den Ergebnissen strukturelle Parameter der untersuchten Materialien zu bestimmen.
Inhalt:
* Verständnis und Bedienung einer Röntgenkleinwinkelkamera
* Probenvorbereitung und Durchführung von Kalibriermessungen
* Experimente an weichen Materialien (Phasenübergangängen lyotroper Flüssigkristalle, amorphen und kristallinen Bereiche in Polymeren, etc.)
Methode:
RöntgenkleinwinkelstreuungRöntgenweitwinkelstreuung, Metalle
Ziel: Gitterstruktur und Phasenanteil. Die Studierenden lernen die Messung von Diffraktogrammen mittels Röntgenweitwinkelstreuung sowie die Bestimmung der Phasenanteile in einem Duplexstahl.
Inhalt:
* Erzeugung von Röntgenstrahlung, Aufbau eines Röntgenweitwinkelexperiments.
* Detektorkalibrierung, Probenpräparation und -messung.
* Bestimmung Gitterkonstante aus einem Diffraktogramm.
* Bestimmung der Phasenanteile eine zweiphasigen Stahls durch Röntgenstreuung.
Methode:
RöntgenweitwinkelstreuungDynamische Mechanische Analyse (DMA) und Thermomechanische Analyse (TMA)
Ziel: Untersuchungen von thermischen und mechanischen Eigenschaften (elastische Konstanten,
Phasenumwandlungstemperaturen, Aktivierungsenergie, thermischer Ausdehnungskoeffizient) verschiedener Materialien.
Inhalt:
*Grundlagen der DMA und TMA Methoden und Geräte
*Messung grundlegender mechanischer und thermischer Materialeigenschaften
*Bestimmung der Aktivierungsenergie, Phasenumwandlungstemperatur und Glasübergangstemperatur
*Quantitative Auswertung der experimentellen ResultateElektronenmikroskopie: Analyse der Struktur und Morphologie nanoskaliger Systeme:
Ziel:
Verständnis der physikalischen Prozesse und optischer Aberrationen relevant für die elektronenmikroskopische Abbildung. Mit Hilfe digitaler Bildverarbeitung werden die Abbildungen analysiert, manuell und automatisiert ausgewertet und damit strukturelle und morphologische Parameter ermittelt.
Inhalt:
* Bedienung eines Tabletop Elektronenmikroskops in verschiedenen Modii
* Abbildung nanoskaliger Systeme im realen oder reziproken Raum
* Auswertung mittels digitaler Bildverarbeitung
Methode:
Raster- und Durchstrahlungselektronenmikroskopie