Universität Wien
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280018 VU BA_ERD_14 Rock optical microscopy (PI) (2018W)

5.00 ECTS (4.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Continuous assessment of course work
Moodle

Registration/Deregistration

Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).

Details

max. 70 participants
Language: German

Lecturers

Classes (iCal) - next class is marked with N

  • Monday 05.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 06.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 12.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 13.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 19.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 20.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 26.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 27.11. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 03.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 04.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 10.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 11.12. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 07.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 08.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 14.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 15.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 21.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 22.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Monday 28.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II
  • Tuesday 29.01. 14:15 - 18:00 Gustav Tschermak-Praktikumsraum 2C201 2.OG UZA II

Information

Aims, contents and method of the course

Die Studierenden wissen über die Phänomene der Interaktion des Lichtes mit ausreichend dünnen und transparenten Materialien und wie diese mit Hilfe des Polarisationsmikroskops zur Identifizierung von Mineralen eingesetzt werden können. Sie sind darüber hinaus in der Lage, den Mineralbestand und die Mikrostruktur eines Gesteins im Dünnschliff zu erkennen und Aussagen über dessen Namen und Bildungsbedingungen zu machen. Diese Kompetenzen wurden durch Übungen am Mikroskop erworben.

Assessment and permitted materials

Die LV enthält pi und npi Anteile und wird insgesamt in Form einer Modulprüfung nach den pi-Regeln absolviert.

Dafür sind drei, nach einem Punktesystem zu bewertende Teilleistungen an folgenden Terminen zu erbringen:
TL1: 20.11.2018 Kristalloptik, 34 Punkte
TL2: 11.12.2018 Magmatische Gesteine, 33 Punkte
TL3: 22.01.2019 Metamorphe Gesteine, 33 Punkte

Den Studierenden obliegt die Prüfung der Kollisionsfreiheit dieser Termine mit anderen Studienaktivitäten unmittelbar nach ihrer Bekanntmachung.

Zusatztermin:
TLW: 25.02.2019, 14:00 Uhr; An diesem Termin besteht die Möglichkeit eine durch Krankheit oder andere nachweislich widrige Umstände versäumte Teilleistung nachzuholen. Zudem wird an diesem Termin eine Verbesserungsmöglichkeit für die mit der geringsten Punktezahl bewertete Teilleistung angeboten. Dabei ist zu beachten, dass die am Nachholungstermin erbrachte Teilleistung die eventuell schon erbrachte Teilleistung ersetzt, unabhängig davon ob dadurch eine Verbesserung oder eine Verschlechterung des Ergebnisses entsteht.
Die Teilnahme an der TLW setzt eine schriftliche Anmeldung (per e-mail an den LV Leiter) bis spätestens 18.2.2019 unter Angabe der zu absolvierenden TL voraus.

Bei den Teilleistungen sind außer den optischen Tabellen (Tröger) keinerlei Hilfsmittel erlaubt.

Benotungsschema:
In den drei TL werden kumulativ Punkte von maximal 100 möglichen Punkten erworben.

Erzielte Punkte Note
87 - 100 1
75 – 86,99 2
63 – 74,99 3
50 – 62,99 4
<50 5

Minimum requirements and assessment criteria

Die Lehrveranstaltung ist positiv absolviert, wenn kumulativ mindestens 50 Punkte erreicht wurden. Die Benotung erfolgt proportional zu der Punktesumme aller drei Teilleistungen. Unbegründete Abwesenheit bei einer Teilleistung wird jeweils mit 0 Punkten bewertet. Es gilt Anwesenheitspflicht. Für die positive Absolvierung der LV müssen mindestens 75% Anwesenheit nachgewiesen werden.

Angemeldete und am Beginndatum unbegründet abwesende Personen werden automatisch von der Lehrveranstaltung abgemeldet. Eine konsequenzfreie, eigenständige Abmeldung von dieser LV ist via U:SPACE bis zum 17.11.2018 möglich.

Examination topics

In den TL wird der im VO Teil der LV kommunizierte Stoff abgefragt und praktische Übungen am Polarisationsmikroskop durchgeführt. Die Protokolle zu den in der TL bearbeiteten Proben werden bewertet.

Reading list

Raith, M.M., Raase, P., und Reinhardt, J. (2011) Leitfaden zur Dünnschliffmikroskopie, ISBN 978-3-00-036420-4 (PDF),
https://www.dmg-home.org/servicepublikationen/downloads/

Association in the course directory

Last modified: Sa 02.04.2022 00:25