280155 UE Applied Crystal-structure Analysis (W2_28_52) (PI) (2010W)
Continuous assessment of course work
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Vorbesprechung: Mittwoch, 06.10.2010 um 14.00 Uhr s.t. (pktl.) im Unterrichtsraum 2B284
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from Th 16.09.2010 06:00 to Th 30.09.2010 14:00
- Registration is open from Mo 04.10.2010 14:00 to Tu 30.11.2010 09:00
- Deregistration possible until Tu 30.11.2010 09:00
Details
max. 20 participants
Language: German
Lecturers
Classes
Currently no class schedule is known.
Information
Aims, contents and method of the course
Assessment and permitted materials
Minimum requirements and assessment criteria
Studienziele: Die Studierenden beherrschen die strukturelle Charakterisierung mit Röntgenstrahlen an ausgewählten Einkristallen oder pulverförmigen Substanzen in der Praxis, beginnend bei der Probenauswahl, Probenvorbereitung, der Montierung der Probe, bis zur Datensammlung und Auswertung. Sie können selbständig die einschlägigen Instrumente und Rechenverfahren anwenden sowie eine Evaluierung der erzielten Ergebnisse durchführen. Sie können die Anwendung von anderen Strahlungsarten wie Neutronen-, Synchrotron- oder Elektronenstrahlung sowie die heute experimentell zugänglichen Temperatur- und Druckbereiche wiedergeben.
Examination topics
Reading list
Association in the course directory
Last modified: Mo 07.09.2020 15:42