280161 UE Applied Crystal-structure Analysis (W2_28_52) (PI) (2011W)
Continuous assessment of course work
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Mo 13:00 -17:15, Änderung: Labor/Röntgenraum 3 (Vierkreiser) Nr. 2A175
Beginn: 03.10.11
Beginn: 03.10.11
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from Th 15.09.2011 00:00 to Th 29.09.2011 23:59
- Registration is open from Mo 03.10.2011 00:00 to We 30.11.2011 23:59
- Deregistration possible until We 30.11.2011 23:59
Details
max. 20 participants
Language: German
Lecturers
Classes
Currently no class schedule is known.
Information
Aims, contents and method of the course
Assessment and permitted materials
Minimum requirements and assessment criteria
Studienziele: Die Studierenden beherrschen die strukturelle Charakterisierung mit Röntgenstrahlen an ausgewählten Einkristallen oder pulverförmigen Substanzen in der Praxis, beginnend bei der Probenauswahl, Probenvorbereitung, der Montierung der Probe, bis zur Datensammlung und Auswertung. Sie können selbständig die einschlägigen Instrumente und Rechenverfahren anwenden sowie eine Evaluierung der erzielten Ergebnisse durchführen. Sie können die Anwendung von anderen Strahlungsarten wie Neutronen-, Synchrotron- oder Elektronenstrahlung sowie die heute experimentell zugänglichen Temperatur- und Druckbereiche wiedergeben.
Examination topics
Reading list
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Last modified: Mo 07.09.2020 15:42