280164 UE Instrumental Analytical Methods I (W0_28_61) (PI) (2013W)
Continuous assessment of course work
Labels
Di 15:00 - 17:30, 2C373
Vorbesprechung am Dienstag, 01.10.2013 ab 14:15 Uhr im Raum 2C373
Vorbesprechung am Dienstag, 01.10.2013 ab 14:15 Uhr im Raum 2C373
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from Fr 06.09.2013 00:00 to Su 29.09.2013 23:59
- Registration is open from Tu 01.10.2013 00:00 to Th 17.10.2013 23:59
- Deregistration possible until Th 31.10.2013 23:59
Details
max. 20 participants
Language: German
Lecturers
Classes
Currently no class schedule is known.
Information
Aims, contents and method of the course
Assessment and permitted materials
Minimum requirements and assessment criteria
Modulziele: Die Studierenden kennen die Grundlagen der qualitativen und quantitativen Feststoffanalyse mit Röntgenstrahlen. Sie beherrschen die Theorie und Praxis der Röntgenpulverdiffraktometrie (PXRD) und Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA) und können beide Methoden zur Bestimmung und Charakterisierung von Mineralen, Gesteinen und Werkstoffen einsetzten. Sie können deren Verwendung in Industrie und Forschung wiedergeben und besitzen die Kompetenz für spezifische Fragestellungen die geeignete Methode auszuwählen, die Analyse selbständig durchzuführen und die Daten zu interpretieren.
Examination topics
Reading list
Allmann, R. (2003): Röntgenpulverdiffraktometrie (2. Aufl.), Springer (FB 25.2.Min).
Buhrke, V.E., Hrsg. (1998): A practical guide for the preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis, Wiley (FB 25.2.Min).
Hahn-Weinheimer, P. et al. (1995): Röntgenfluoreszenzanalytische Methoden, Vieweg (FB 15.Fü).
Krischner, H., Koppelhuber-Bitschnau, B. (1994): Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode (5. Aufl.), Vieweg (FB 25.2.Min).
Buhrke, V.E., Hrsg. (1998): A practical guide for the preparation of specimens for X-ray fluorescence and X-ray diffraction analysis, Wiley (FB 25.2.Min).
Hahn-Weinheimer, P. et al. (1995): Röntgenfluoreszenzanalytische Methoden, Vieweg (FB 15.Fü).
Krischner, H., Koppelhuber-Bitschnau, B. (1994): Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode (5. Aufl.), Vieweg (FB 25.2.Min).
Association in the course directory
Last modified: Sa 23.12.2023 00:19