280170 VU Diffraction Methods (2024S)
Continuous assessment of course work
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Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from Mo 05.02.2024 00:00 to Tu 27.02.2024 23:59
- Registration is open from Th 29.02.2024 00:00 to We 06.03.2024 23:59
- Deregistration possible until Su 31.03.2024 23:59
Details
max. 20 participants
Language: German
Lecturers
Classes
UZA II: Room 2B382
Information
Aims, contents and method of the course
Assessment and permitted materials
Teilleistung 1:
Ein mündliches Gespräch zur Theorie (1/3 Wichtung). Die Teilleistung 1 muss zwischen Ende März und Mitte Juni absolviert werden.Teilleistung 2:
Die Protokolle der verschiedenen Übungen (insgesamt 2/3 Wichtung) sind vorzugsweise im Anschluss an die Übungseinheiten, spätestens jedoch bis Mitte Juli 2024 abzugeben.
Ein mündliches Gespräch zur Theorie (1/3 Wichtung). Die Teilleistung 1 muss zwischen Ende März und Mitte Juni absolviert werden.Teilleistung 2:
Die Protokolle der verschiedenen Übungen (insgesamt 2/3 Wichtung) sind vorzugsweise im Anschluss an die Übungseinheiten, spätestens jedoch bis Mitte Juli 2024 abzugeben.
Minimum requirements and assessment criteria
Erfolgreicher Abschluss der instrumentellen Analytik der Geowissenschaften bzw. Kenntnis zur Entstehung von Röntgenstrahlung, Wechselwirkung von Röntgenstrahlung mit Materie, Röntgenquellen und Röntgendetektoren.
Examination topics
siehe Inhalt der Lehrveranstaltung
Reading list
„Kristallstrukturbestimmung“ Massa, W.; Springer Spektrum
(Es ist möglich, dieses Buch über UB herunterzuladen. Es stellt für mehrere Kapitel der Lehrveranstaltung eine sehr gute Übersicht dar und ist als Einstieg sehr zu empfehlen.)
„Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker“ Spieß, L., Teichert, G., Schwarzer, R., Behnken, H., Genzel, C.; Springer Spektrum
„Crystal Structure Refinement: A Crystallographer's Guide to Shelxl” Müller, P., Herbst-Irmer, R., Spek, A.L., Schneider, T.R., Sawaya, M.R.; International Union of Crystallography Texts on Crystallography
„Röntgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse Und Strukturbestimmung“ Allmann, R.; Springer
„X-Ray Diffraction“ Warren, B.E.; Dover Publications Inc.
„Crystallography” Schwarzenbach, D.; Wiley
„The Basics of Crystallography and Diffraction” Hammond, C.; International Union of Crystallography Texts on Crystallography
„X-Ray Crystallography” Girolami, G.S.; University Science Books
„International Tables for Crystallography" International Union of Crystallography
(Es ist möglich, dieses Buch über UB herunterzuladen. Es stellt für mehrere Kapitel der Lehrveranstaltung eine sehr gute Übersicht dar und ist als Einstieg sehr zu empfehlen.)
„Moderne Röntgenbeugung: Röntgendiffraktometrie für Materialwissenschaftler, Physiker und Chemiker“ Spieß, L., Teichert, G., Schwarzer, R., Behnken, H., Genzel, C.; Springer Spektrum
„Crystal Structure Refinement: A Crystallographer's Guide to Shelxl” Müller, P., Herbst-Irmer, R., Spek, A.L., Schneider, T.R., Sawaya, M.R.; International Union of Crystallography Texts on Crystallography
„Röntgen-Pulverdiffraktometrie: Rechnergestützte Auswertung, Phasenanalyse Und Strukturbestimmung“ Allmann, R.; Springer
„X-Ray Diffraction“ Warren, B.E.; Dover Publications Inc.
„Crystallography” Schwarzenbach, D.; Wiley
„The Basics of Crystallography and Diffraction” Hammond, C.; International Union of Crystallography Texts on Crystallography
„X-Ray Crystallography” Girolami, G.S.; University Science Books
„International Tables for Crystallography" International Union of Crystallography
Association in the course directory
MA-ERD-M-5; MA-ERD-W-2.11
Last modified: Th 12.12.2024 12:26
- Wellenkinematische Theorie der Röntgenbeugung
- Beugung, Interferenz, Zeigerdiagramm, Ordnung der Beugung
- Lauegleichungen für Beugung an Gittern
- Bragg'sche Gleichung, Netzebenen
- Ewald'sche Lagekugel
- reziprokes Guter und Ewald-Konstruktion
- Atomformfaktor
- Amplituden-Phasenbeziehung und Strukturfaktor
- Laueklassen und Auslöschungsbedingungen
- Raumgruppenbestimmung
- Diffraktionstechniken
- Laueaufnahme, Pulvermethoden, Einkristallmethoden
- Probenformen und Probenumgebungen
- Meßgeometrien und Orientierungssmatrix
- Datenreduktion, Integration und Intensitätskorrekturen
- Bestimmung präziser Gitterparameter
- Phasenproblem und seine Lösungen
- Fourierreihen und Pattersonreihen
- Direkte Methoden, Charge Flipping, Maximum Entropie Methode
- Verfeinerung, Methode der kleinen Fehlerquadrate
- Gütefaktoren der Verfeinerung
- Profilanpassungen (Rietveld bzw. LeBail Anpassungen)
- Validieren von Strukturlösungen