Universität Wien

280190 VO+UE Microstructure analysis using Scanning Electron Microscopy and Ion Beam Technique (2013W)

3.00 ECTS (2.00 SWS), SPL 28 - Erdwissenschaften, Meteorologie - Geophysik und
Continuous assessment of course work

Zeit: Block im Februar 2014

Vorbesrpechung: Di 08.10.13, 15:15 Uhr pünktlich!, Friedrich Becke Seminar, 2C315
Ort: Vorlesungsteil: Friedrich Becke Seminar, 2C315
Übungsteil: 2U120 FEG-SEM-FIB Labor

Voraussetzung: Instrumentelle Methoden II
Moodle

Registration/Deregistration

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Details

max. 8 participants
Language: German, English

Lecturers

Classes (iCal) - next class is marked with N

  • Tuesday 08.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II (Kickoff Class)
  • Tuesday 15.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 22.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 29.10. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 05.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 12.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 19.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 26.11. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 03.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 10.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 17.12. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 07.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 14.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 21.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II
  • Tuesday 28.01. 15:15 - 17:00 Friedrich Becke Seminarraum 2C315 3.OG UZA II

Information

Aims, contents and method of the course

An der Fakultät für Geowissenschaften, Geographie und Astronomie, Erdwissenschaftliches Zentrum, wurde ein neues Labor für Rasterelektronenmikroskopie und Ionenstrahltechnik eingerichtet. Dieses Labor bietet eine absolut zeitgemäße Analytikplattform für die Materialcharakterisierung mit hoher räumlicher Auflösung (im nm Bereich) und Zugang zu dreidimensionalen Strukturen über die Materialbearbeitung mittels fokussiertem Ionenstrahl. Mit diesem Kurs wollen wir die Studierenden der Geowissenschaften an die Möglichkeiten dieser Einrichtung heranführen. Im Vorlesungsteil werden die Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie insbesondere im Hinblick auf die Besonderheiten der Feldemission und die Grundlagen der Ionenstrahltechnik besprochen. Den Hauptteil der Lehrveranstaltung wird die Arbeit am Gerät ausmachen. Es werden im REM Modus elektronenoptische Bilder mit allen am Gerät verfügbaren Detektoren (SE, BSE, …) angefertigt. An elektronentransparenten Proben wird die Methode der Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) erlernt.

Für weiterführende Anwendungen wie die Elementanalytik mittels EDX System, crystal orientation imaging mittels Back Scatter Electron Diffraction (EBSD) und die 3D Rekonstruktion von Mikrostrukturen aus FIB Serienschnitten werden separate Kurse angeboten.

Assessment and permitted materials

Minimum requirements and assessment criteria

Examination topics

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Last modified: Sa 02.04.2022 00:25