450010 VU Powder X-ray diffractometry: The Rietveld-method and its applications (2016S)
Continuous assessment of course work
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Vorbesprechung: Di. 1.3.2016, 10:00 Uhr, 2C373
Registration/Deregistration
Note: The time of your registration within the registration period has no effect on the allocation of places (no first come, first served).
- Registration is open from We 10.02.2016 00:00 to We 24.02.2016 23:59
- Registration is open from Tu 01.03.2016 00:00 to Th 17.03.2016 00:00
- Deregistration possible until Th 17.03.2016 00:00
Details
max. 12 participants
Language: German
Lecturers
Classes
Termin: Mo., 13:00-15:00, 2C373, Beginn 7.3.2016
Information
Aims, contents and method of the course
Ergänzend zu den Lehrzielen der Lehrveranstaltungen Kristallographie und Diffraktionsmethoden (MA-ERD-11) und Mineralogische Phasenanalyse (MA-ERD-17.20) können die Studierenden moderne Methoden und Konzepte der Pulver-Röntgendiffraktometrie (PXRD) auf materialwissenschaftliche Problemstellungen anwenden. Schwerpunkte sind die Beschreibung mikrostruktureller Phaseneigenschaften mit Kurvenentfaltungsmethoden, quantitative Phasenanalyse, die Strukturverfeinerung mit Hilfe der Rietveld-Methode und Verfahren zur ab-initio Strukturlösung aus Röntgen-Pulverdaten. Die Studierenden können die Programmpakete TOPAS und HighScore anweden.
Assessment and permitted materials
Lösung von Problemstellungen mit den Programmpaketen TOPAS und HighScore
Minimum requirements and assessment criteria
Examination topics
Reading list
Allmann R. (2003) Röntgenpulverdiffraktometrie, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
Krischner H. (1994) Röntgenstrukturanalyse und Rietveldmethode, Vieweg.
Pecharsky & Zavalij (2005) Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials, Springer.
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Last modified: Sa 23.12.2023 00:24